Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
Testwafer zur Durchführung der Prozeßkontrolle — technologijos tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process testing wafer vok. Testwafer zur Durchführung der Prozeßkontrolle, m rus. пластина для контроля технологического процесса, f pranc. tranche de test… … Radioelektronikos terminų žodynas
process testing wafer — technologijos tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process testing wafer vok. Testwafer zur Durchführung der Prozeßkontrolle, m rus. пластина для контроля технологического процесса, f pranc. tranche de test… … Radioelektronikos terminų žodynas
tranche de test pour contrôle du processus — technologijos tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process testing wafer vok. Testwafer zur Durchführung der Prozeßkontrolle, m rus. пластина для контроля технологического процесса, f pranc. tranche de test… … Radioelektronikos terminų žodynas
пластина для контроля технологического процесса — technologijos tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. process testing wafer vok. Testwafer zur Durchführung der Prozeßkontrolle, m rus. пластина для контроля технологического процесса, f pranc. tranche de test… … Radioelektronikos terminų žodynas
